離子遷移現(xiàn)象的捕捉

更新日期：2022-04-08 瀏覽次數(shù)：4095

什么是離子遷移現(xiàn)象？

形成枝晶是電極間短路的現(xiàn)象。

離子遷移現(xiàn)象的特征：

●會(huì)在良好的絕緣的狀態(tài)下突然發(fā)生。

●短路的瞬間，因?yàn)樽陨黼娏鞯哪芰浚ń苟鸁幔?，枝晶被燒損，然后恢復(fù)絕緣電阻。

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所以很容易變成瞬間的絕緣劣化現(xiàn)象。

離子遷移的信賴(lài)性試驗(yàn)的作用：

●在某些領(lǐng)域是重大故障

●即便是瞬間的短路現(xiàn)象，在現(xiàn)在高速數(shù)字化處理電路中誘發(fā)錯(cuò)誤動(dòng)作，在某些情況，有發(fā)展成為重大故障的風(fēng)險(xiǎn)。

試驗(yàn)方法是否有效？

現(xiàn)廣泛被使用的槽外計(jì)測(cè)，離子遷移現(xiàn)象是檢測(cè)不出的。所以，NG的測(cè)試樣品也直接被認(rèn)定OK了。

市面上的遷移試驗(yàn)裝置是否都能進(jìn)行準(zhǔn)確檢測(cè)？

離子遷移是瞬間現(xiàn)象。即便是持續(xù)的監(jiān)視試驗(yàn)裝置，通道掃描或數(shù)據(jù)處理需要一定時(shí)間，正確地捕捉現(xiàn)象進(jìn)行適當(dāng)?shù)奶幚砭妥兊煤茈y。

作為試驗(yàn)裝置的重要事項(xiàng)

●有能力準(zhǔn)確檢測(cè)出發(fā)生枝晶的瞬間短路現(xiàn)象。

●在多個(gè)樣品同時(shí)測(cè)試中，什么時(shí)候哪個(gè)樣品發(fā)生離子遷移，都可以檢測(cè)到。

●為了預(yù)防枝晶燒損，顯微鏡觀(guān)察時(shí)等的證據(jù)可以查看。

高速抽樣處理

●J-RAS是業(yè)界最高速，16msec（62.5S/s）。

●能夠進(jìn)行離子遷移的瞬間現(xiàn)象捕捉。

●不只是單一的短路現(xiàn)象事件，而是作為電阻值的連續(xù)數(shù)據(jù)被記錄。

因離子遷移現(xiàn)象導(dǎo)致的電阻值變化如以下情況：

高速抽樣處理的情況：

抽樣處理慢的情況：

高速與普通處理，檢測(cè)結(jié)果有很大偏差：

全部通道同時(shí)抽樣處理：

●J-RAS是所有通道的數(shù)據(jù)同時(shí)抽樣處理。

●假如離子遷移現(xiàn)象同時(shí)多個(gè)通道發(fā)生，數(shù)據(jù)也不會(huì)漏掉。更準(zhǔn)確高效得檢測(cè)樣品。

多個(gè)通道同時(shí)發(fā)生離子遷移現(xiàn)象的情況如下：

單一AD掃描的話(huà)，與通道數(shù)成反比例，發(fā)生通道數(shù)越多越不準(zhǔn)確。

每個(gè)通道都分別配有AD，可以同時(shí)監(jiān)測(cè)所有通道。

J-RAS的模擬電路能夠防止枝晶燒損

●設(shè)備配有電流限制電路，即便枝晶短路，也不會(huì)給樣品輸入超范圍的電力。

●高速16msec的抽樣處理，及時(shí)檢出電阻值低下，把模擬電路的偏壓輸出功率及時(shí)停止。（根據(jù)判定條件設(shè)定）

高速、多通道同時(shí)抽樣，J-RAS能夠大量數(shù)據(jù)并行處理。

簡(jiǎn)而言之，J-RAS設(shè)備的高速、多通道并行處理，能夠更可靠的檢測(cè)出遷移現(xiàn)象。