BRUKER納米紅外光譜與成像系統(tǒng)nanolR3-S

BRUKER納米紅外光譜與成像系統(tǒng)nanolR3-S簡(jiǎn)介 基于原子力顯微鏡（AFM）的納米紅外光譜（AFM-IR）是一種將AFM的高空間分辨率與紅外光譜的化學(xué)分析能力相結(jié) 合的新技術(shù)。該技術(shù)通過使用原子力顯微鏡的針尖來局部檢測(cè)樣品因紅外輻射的局部吸收而產(chǎn)生的熱膨脹信號(hào)，突 破了傳統(tǒng)紅外顯微光譜由于光衍射而引起的空間分辨率限制（空間分辨率為通常小于λ/2），可實(shí)現(xiàn)優(yōu)于10nm空間分 辨，單分子層靈敏度的納米紅外光譜和紅外成像。

BRUKER納米紅外光譜與成像系統(tǒng)nanolR3-S中國代理商功能應(yīng)用介紹

布魯克的納米紅外光譜與成像系統(tǒng)配置有全面的納米紅外光譜和成像功能，還有多樣化的AFM相關(guān)功能，真正實(shí)現(xiàn) 納米化學(xué)、力學(xué)電學(xué)、熱學(xué)等多維度定量測(cè)試。這些主要功能模式包括：共振增強(qiáng)AFM-IR、輕敲AFM-IR、表面靈敏AFMIR、共振增強(qiáng)力陣列AFM-IR、其他AFM相關(guān)功能（見AFM部分介紹）等。

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