J-RAS 中國代理離子遷移試驗裝置ECMr-500（2026年發布）集成兩大經典機型優勢，支持最高500V遷移測試與16ms高速采樣。采用高邊測量方式，實現高效樣品連接。提供40/100通道機箱，電阻測量范圍2kΩ～10TΩ，電壓設定分辨率0.1V，電流測量最*達p*級精度。適用于高可靠性離子遷移分析。

J-RAS中國代理商導通電阻試驗裝置RTm-30DC并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。

J-RAS ECMr離子遷移試驗裝置ECMr-1000-n，在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。 離子遷移實驗裝置 絕緣可靠性評估，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經過長時間的測試（1 ～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生 , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗，絕緣阻力電阻試驗。

日本J-RAS中國代理商離子遷移試驗測試裝置是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ），經過長時間的測試（1 ～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生（ ION MIGRATION ），并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。

J-RAS中國代理離子遷移試驗裝置（CAF）是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓, 經過長時間的測試（1 ～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生, 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。

日本J-RAS中國代理商離子遷移試驗裝置 CAF試驗/CAF測試是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ），經過長時間的測試（1 ～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生（ ION MIGRATION ），并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。